Taramalı Elektron Mikroskopları SEM

SEC masaüstü taramalı elektron mikroskobu (SEM) modelleri ile incelemek istediğiniz malzeme ve örnekleri 150.000x büyütme ve 5 nm detay seviyesinde görüntüleyebilirsiniz. SE ve BSE detektör. EDS analizi opsiyonu ve dahası.
sec-sem-banner
SEC SNE-3000MS taramalı elektron mikroskobu SEM
Kolay SEM görüntüleme için optimize edilmiş spektrumlara sahip en ekonomik model.
15nm detay. Maksimum 60.000x büyütme. SE detektör.
SEC SNE-3200M taramalı elektron mikroskobu SEM
SE ve BSE detektörleri ile kapsamlı malzeme analizleri. Yüksek ve düşük vakum sistemi bir arada. İletken olmayan örnekleri metal kaplama yapamadan inceleyebilme. 15nm detay. 60.000x büyütme. EDS opsiyonu ile element analizi.
SEC SNE-4000M taramalı elektron mikroskobu SEM
Yüksek çözünürlük gücü, 100.000x'e kadar gerçek zamanlı numune inceleme. 5nm detay. SE Detektör. Standart Değişken Açıklık (30, 50, 100㎛) ve 5 eksen çok yönlü kontrol ile optimum numune konumlandırma kullanılarak son derece küçük özelliklerin veya parçacıkların yüksek kaliteli görüntüleri.
SEC SNE-4000M PLUS taramalı elektron mikroskobu SEM
SNE-4500M Plus modeli kullanım kolaylığında en üst seviyededir. Tamamen motorlu kademede hızlı hareket ve üstten bakan kamera ile örnek analiz noktasını bulmak çok kolaydır. SNE-4500M, maksimum 150.000x büyütme, minimum 5nm detay gösterme oranına sahiptir ve geniş aşamalı kompozisyon ile yüzey / kesit analizi için optimize edilmiştir.

Taramalı Elektron Mikroskobu Nedir ?

Taramalı elektron mikroskobu (SEM), katı örneklerin yüzeyinde çeşitli sinyaller üretmek için yüksek enerjili elektronlardan oluşan odaklanmış bir ışın kullanır. Elektron-örnek etkileşimlerinden türetilen sinyaller, dış morfoloji (doku), kimyasal bileşim, kristal yapı ve numuneyi oluşturan malzemelerin oryantasyonu da dahil olmak üzere örnek hakkında bilgi ortaya koymaktadır.

Çoğu uygulamada veriler, numunenin yüzeyinin seçilen bir alanı üzerinde toplanır ve bu özelliklerde uzamsal farklılıkları gösteren 2 boyutlu bir görüntü oluşturulur. Genişliği yaklaşık 5 mikron ile 1cm arasında değişen alanlar, geleneksel SEM teknikleri kullanılarak bir tarama modunda görüntülenebilir.

Kullanım Yerleri

SEM rutin olarak nesnelerin şekillerinin (SEI) yüksek çözünürlüklü görüntülerini üretmek ve kimyasal bileşimlerde uzamsal farklılıkları göstermek için kullanılır.

Bunlara örnek olarak şu uygulamaları sayabiliriz.

1.EDS kullanarak temel haritalar veya spot kimyasal analizler elde etmek
2.BSE kullanarak ortalama atom sayısına göre (genellikle bağıl yoğunluk ile ilgili) fazların ayırt edilmesi
3.CL kullanarak iz element "aktivatörleri" (tipik olarak geçiş metali ve Nadir Toprak elementleri) arasındaki farklılıklara dayanan kompozisyon haritaları.

SEM ayrıca, nitel kimyasal analiz ve / veya kristal yapıya dayanan fazları tanımlamak için yaygın olarak kullanılır. SEM kullanılarak çok küçük özelliklerin ve 50 nm'ye kadar olan nesnelerin hassas ölçümü de gerçekleştirilir. Backescattered elektron görüntüleri (BSE), çok fazlı numunelerde fazların hızlı bir şekilde ayırt edilmesi için kullanılabilir. Kırık geri saçılmış elektron dedektörleri (EBSD) ile donatılmış SEM'ler, birçok malzemede mikrofabrik ve kristalografik yönlendirmeyi incelemek için kullanılabilir.

Güçlü Yanları

SEM ile karşılaştırılan katı materyallerin incelenmesinde, uygulamaların genişliğine dair tartışmalı başka bir araç yoktur. SEM, katı malzemelerin karakterizasyonunu gerektiren tüm alanlarda kritik öneme sahiptir. Bu katkı en çok jeolojik uygulamalarla ilgiliyken, bu uygulamaların bu enstrümantasyon için var olan bilimsel ve endüstriyel uygulamaların çok küçük bir alt kümesi olduğunu not etmek önemlidir. Çoğu SEM, kullanıcı dostu "sezgisel" arayüzlerle nispeten kullanımı kolaydır. Pek çok uygulama minimal numune hazırlama gerektirir. Birçok uygulama için veri toplama hızlıdır (SEI, BSE, spot EDS analizleri için 5 dakikadan daha az görüntü.) Modern SEM'ler, dijital formatlarda oldukça taşınabilir olan veri üretir.


























































































Performans
Model SNE-4500M-Plus(A) SNE-4500M-Plus(B) SNE-4500M SNE-3000MS SNE-3200M
Çözünürlük 5nm 15nm
Büyütme Oranı 150,000x 100,000x 60,000x
Dedektör SE SE/BSE SE SE/BSE
Vakum Yüksek Yüksek/Düşük Yüksek Yüksek/Düşük
Sahne X, Y, R, Z, T : Tam Motorlu X, Y, R, Z, T : Manuel X, Y, R : Manuel
Özellikler
Sahne Hareketi X, Y : 40㎜
R : 360º

Z : 0 ~ 40㎜
T : -45 ~ 90º
X, Y : 40㎜
R : 360º T : 0 ~ 45º
Z : 0 ~ 35㎜
X, Y : 35㎜ R : 360º
Maksimum Örnek Boyutu 80㎜(D) / 50㎜(H) 80㎜(D) / 35㎜(H) 70㎜(D) / 30㎜(H)
Kamera Top-View Camera - -
O.L Diyafram Türü 30, 50, 50, 100㎛(Değişken Tipi) 200㎛(Tek)
Elektron Kaynağı Ön merkezli Tungsten Filament Kartuş
Hzılandırma Gerilimi Ekran Modu
otomasyon İşlevi Başlatma, Odaklama, Stigmator, Kontrast ve Parlaklık
Resim Formatı BMP, JPEG, PNG, TIFF
Vakum Pompası Rotary + Turbo Moleküler Pompa (Tamamen Otomasyon Sistemi)

copyright

© Telif Hakkı 2016-2019 prosmt.com

Prosmt MENU TR